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Impliquée de longue date dans la promotion des mesures CEM en champ proche, NEXIO Grenoble a renforcé ce positionnement ces derniers mois en mettant en place un moyen d’essais BAT-SCANNER dans ses locaux d’Inovallée et en renforçant ses équipes techniques sur cette thématique.
Orientée gains de productivité et de qualité pour les équipes de développement électronique, l’innovation de NEXIO dans les mesures en champ proche ouvre également de nouvelles perspectives pour les développeurs et intégrateurs d’équipements électroniques critiques.
Par exemple :
- Etude de robustesse électromagnétique d’un circuit : injection de défauts maitrisés et localisés (spatial, temporel, énergie transmise, …)
- Détection de cibles pour injection de fautes intentionnelles (imagerie en temps et en fréquence) ou d’un trojan hardware
- Analyse de l’efficacité de chiffrement (écoute et traitement de données par algorithmes statistiques)
Pour plus d’informations :
fabrice.martinot@nexiogroup.com – 06.11.25.19.03