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Architecture de test et de caractérisation

Architecture de test et de caractérisation

Evolution de l'architecture de test et de caractérisation pour l'industrie du semi-conducteur

Le produit

Les marchés visés seront, les plateformes d'engineering qui permettent de qualifier un composant avant de le fabriquer en fort volume et les plateformes pour le test en petit volume (100K pièces/mois)

L'histoire du produit

L'objectif du projet est de passer la vitesse de transfert des informations CPU vers les instruments de 50Mbps à 6 Gbps. Ce qui nous permettra d'atteindre des performances comparables à la concurrence pour le transfert d'un imageur 20 Mpixel. Un premier projet mené avec l'Esisar en 2015 a permis de valider l'architecture Hardaware. Le deuxième porjet en cours vise à finaliser le software Nous estimons les ventes induites par la réussite de ce projet à 500 kEuros la première année, 600 kEuros la deuxième
Chiffre d'affaire généré 500 K€ (prévionnel 2017) - 600 K€ (prévisionnel 2018)
Financeurs Projet Financé par l'IRT Nanoelec à travers son programme Easytech, piloté par Minalogic
En collaboration avec Grenoble INP ESISAR

La société : AEM Mu-TEST

La société MuTest est spécialisé dans la conception, fabrication et commercialisation d'instruments et systèmes de test (ATE) et de caractérisation pour les circuits intégrés. Grâce à une architecture innovante à base de FPGAs, MuTest propose des équipements capables de gérer des signaux / datarates très rapides (800 Megabits par seconde aujourd'hui, 1.6 Gigabits par seconde demain), avec toutes les fonctionnalités de test nécessaires pour les composants numériques, systems on chip, capteurs d'image, et mémoires.

Date de création 2010
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